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0 索取号:TP18-532/E20062/5 作者:Industrial Conference on Data Mining (5th : 2005 : Houston、 Texas)、Han、 Jiawei.、IEEE Computer Society. Technical Committee on Pattern Analysis and Machine Intelligence.、 出版社:Los Alamitos, California : IEEE Computer Society, c2005.
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0 索取号:D971.21/E20061 作者:Rubenfeld、 Jed、 1959-、Morley、 Morris H.、McGillion、 Chris、 1954-、 出版社:Gainesville : University Press of Florida, c2005.
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0 索取号:Q987/E20062 作者:M'charek、 Amade.、 出版社:Cambridge ; New York : Cambridge University Press, 2005.
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0 索取号:K837.127/E20062 作者:Dauer、 Richard P.、 1941-、 出版社:Westport, Conn. : Praeger, 2005.
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0 索取号:TN929.1-532/E20053/7 作者:International Conference on Quantum Communication、 Measurement、 and Computing (7th : 2004 : Glasgow、 Scotland)、Barnett、 S. M. (Stephen M.)、Tamagawa Daigaku.、 出版社:Melville, N.Y. : American Institute of Physics, 2004.
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0 索取号:N09/E20053 作者:Waller、 John、 1972-、 出版社:Oxford : Oxford University Press, 2002.
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0 索取号:D771.29/E20052 作者:Heale、 M. J.、 出版社:London : Arnold ; New York : Distributed in the U.S.A. by Oxford University Press, c2004.
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0 索取号:O72/E20051 作者:Helliwell、 John R.、 出版社:Cambridge ; New York, NY : Cambridge University Press, 2004.
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0 索取号:E712.25/E20051 作者:National Research Council (U.S.). Committee on the Youth Population and Military Recruitment.、Sackett、 Paul R.、Mavor、 Anne S.、 出版社:Washington, D.C. : National Academies Press, c2004.
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0 索取号:R815/E901.3 作者:Hendee、 William R.、Ibbott、 Geoffrey S.、Hendee、 Eric G.、 出版社:Hoboken, N.J. : Wiley-Liss, c2005.
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0 索取号:R282.71/E20052 作者:Van Wyk、 Ben-Erik.、Wink、 Michael.、 出版社:Portland : Timber Press, 2004.
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0 索取号:D813.2/E20052.4 沈新忠 作者:Weiss、 Thomas George.、Forsythe、 David P.、 1941-、Coate、 Roger A.、 出版社:Boulder, Colo. : Westview Press, c2004.
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0 索取号:K712.0/E20055.4 作者: 出版社:Boston : McGraw-Hill, c2001.
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0 索取号:D830.2/E20051 作者: 出版社:London : F. Cass ; New York : Routledge, 2005.
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0 索取号:D750.6/E20051 作者: 出版社:Aldershot, Hants, England ; Burlington, VT : Ashgate, c2005.
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0 索取号:TP333-53/E20051/12 作者:IEEE International Workshop on Memory Technology、 Design and Testing (12th : 2004 : San Jose、 Calif.)、Rajsuman、 Rochit.、Wik、 T. (Thomas)、IEEE Computer Society.、IEEE Computer Society. Technical Committee on VLSI.、IEEE Computer Society. Technical Council on Test Technology.、IEEE Solid-State Circuits Society.、 出版社:Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society, c2004.
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